产品介绍
BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是丹东百特仪器有限公司2024年最新推出的表征纳米体系特性的顶级光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率以及颗粒物浓度等参数，可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究、质量分析和质量控制。
基本性能指标
1、粒径检测(动态光散射法)
| 粒径范围 | 0.3 nm - 15 μm* |
| 样品量 | 最小3μL，常规1ml（可订制其它容量）* |
| 检测角度 | 173°+90°+11.2°（可对应高浓度粒度和低浓度粒度） |
| 样品浓度 | ≤40%（W/V）* |
| 粒径算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
2、Zate电位测试
| Zeta范围 | 无实际限制 |
| 原理 | 相位分析光散射PALS |
| 电泳迁移率范围 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 电导率范围 | 0 - ≥270 mS/cm * |
| Zeta测试粒径范围 | 1 nm – >120 μm * |
3、沉降法粒度测试
| 粒径范围 | 1 μm - 50 μm * |
| 检测角度 | 0°（PD检测器） |
| 样品量 | 1 – 3 ml |
4、分子量测试
| 分子量范围 | 342 Da – 2 x 107 Da * |
5、微流变测试
| 测试能力 | 均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量、复数粘度 |
6、趋势测试
| 温度趋势 | 粒度与Zeta电位随温度变化趋势，自动检测温度转变点Tm |
| 时间趋势 | 粒度与Zeta电位随时间的变化趋势 |
| pH值趋势 | 粒度与Zeta电位随pH值的变化趋势 * |
7、浓度检测
| 检测方法 | LEDLS |
| 测试能力 | 体积分数和数量浓度 |
8、折射率测试
| 折射率范围与精度 | 1.2 - 1.6，液体，精度优于0.1% |
| 检测方法 | 楔形池样品折射法（无需示踪粒子） |
| 检测角度 | 0°（CMOS检测器） |
| 样品量 | 380 μL – 1 ml |
9、系统参数
| 温控范围 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空气或者氮气 |
| 激光器 | 高性能固体激光器，波长671nm（不同波长激光器可选） |
| 相关器 | 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，1011动态线性范围 |
| 检测器 | APD+PD+CMOS |
| 光强控制 | 0.0001% -100%，自动或手动控制 |
| * 依赖于样品和选件 | |
检测参数
动态光散射
●流体力学尺寸 Dh
●分布系数 PD.I
●扩散系数 D
●颗粒间相互作用力因子 kd
●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布
●计算分子量
●溶液粘度和折射率
●流变学信息G*，G‘，G“，η*，J
●稳态和瞬态粒径分布
电泳光散射
●Zeta电位及其分布
●带电颗粒的电泳迁移率
透射
●透射浊度
● 颗粒物浓度
●液体折射率
●沉降法粒度和粒度分布测试
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