产品介绍

BeSEC 光散射检测器是丹东百特仪器有限公司最新推出的静态光散射检测器系统，可以与市场上任何第三方的色谱前端相连接，通过检测每一个被分离的流出组分的散射光信号，结合接收到的示差折光检测器或者紫外检测器得到的浓度信号，计算样品绝对分子量Mn、Mw、Mz以及分子量分布等信息。

基本性能指标

应用领域

● 塑料原料生产与质量控制

● 矿物加工与选矿

● 农业产品

● 催化剂与吸附材料

● 食品原料品质及加工控制

● 磨料

● 粉体研发与质量控制

● 药物制剂开发与生产

● 新能源材料

● 3D打印材料

突出特点

● 双CMOS同步测量，一次测量即可输出宽分布结果

● 对窄分布样品具有极高的分辨率

● 微量过大或过小颗粒都能够准确检测

● 结果可以与筛分结果进行拟对

● 高分辨相机以获得最清晰的颗粒图像

● 高均匀性单色面光源及物方远心镜头确保图像无透视、无畸变，成像准确

● 自动调节进料速度，使分散效果、测试效率、重复性均达到最佳

● 自动从结果中剔除杂质、灰尘、连接颗粒，让判断不受干扰

● 通过颗粒特征筛选，可进行混合物中的单一组分测量

● 连接颗粒自动识别，确保测量结果准确可靠

● 标准化测试流程，结果不受人为影响

● 测试效率高，典型测量时间约3min

● 极佳的重复性及重现性

● 操作简单、自动化程度高

● 无样品量限制

● 几乎无需维护

良好的重复性

对于窄分布的玻璃珠，BeVision D3能够为粒径测量提供甚至优于0.1%的重复性。

对于宽分布且形状极不规则的破碎大豆颗粒，其D50的重复性依旧优于0.5%。

全面的粒度粒形分析

BeVision D3能够从长度、直径和弯曲程度三方面对棒状的石油裂解催化剂进行全面的评价。其测量结果与对颗粒特征的直观判断高度一致。

准确测量含量极少的过大颗粒

6分钟检测了超过100万个着色剂颗粒，分布图显示其含有极少量的过大颗粒，通过图像可判断出每个过大颗粒都是由多个着色剂小颗粒形成的团聚体。

对窄分布具有高分辨率

磨料中存在过大或过小的颗粒都会影响研磨效果。BeVision D3在测量过程中对每一个捕捉到的颗粒进行计算，再对所有颗粒进行统计分析，分辨率可准确到具体颗粒。并且BeVision D3能够按照用户需求输出准确的过大颗粒和过小颗粒含量。另外还能够同步测量粒形，评价磨料颗粒的锋利度。

测量结果可与筛分结果拟对

BeVision D3测量的粒径参数中的筛分径算法与筛分法的测量原理进行匹配，能够提供接近筛分的粒径结果，并且通过筛分拟对功能，能够对由测量原理、颗粒形状、统计学方法等客观因素导致的固定差异进行自动补偿，直接输出与筛分一致的粒径分布结果。

BeVision D3直接输出的粒径分布与筛分结果具有一致性。用户可从筛分法零难度的切换为BeVision D3，大大提高测量效率，降低人力成本。