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产品简介

产品介绍


BeNano Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理,样品分散在样品池中,在样品池两端施加一个电场,通过激光照射到电场中的样品上,光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移,进而得到体系的 Zeta 电位信息。


BeNano-Zeta-电位分析仪.jpg


基本性能指标


Zata电位测试

  原理

  相位分析光散射技术

  检测角度

  12°

  Zeta范围

  无实际限制

  电泳迁移率范围

  > ±20 μ.cm/V.s

  电导率范围

  0-260 mS/cm

  Zeta测试粒径范围

  2 nm – 110 μm

  样品量

  0.75 mL – 1.0 mL

趋势测试

  时间和温度

系统参数

  温控范围

  -15℃-110℃

  冷凝控制

  干燥空气或者氮气

  标准激光光源

  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm

  相关器

  最多 4000通道,1011动态线性范围

  检测器

  APD (高性能雪崩光电二极管)

  光强控制

  0.0001%  - 100%,手动或者自动

软件

   中文和英文

  符合21CFR Part 11



检测参数

●Zeta 电位

Zeta 电位分布



检测技术

●电泳光散射

●相位分析光散射


流动模式

流动模式适用于与场流分离系统 FFF 或者渗透色谱 GPC/SEC连接使用,检测每一个被分离的流出组分的散射光波动信号, 计算其颗粒的粒径尺寸,结合接收到的示差折光检测器或者紫外检测器得到的浓度信号,得到高分辨率的不依赖于计算模型的颗粒粒径分布。

   

粒径测试(选件)

BeNano 系列各型号功能区分


公司地址:辽宁丹东临港产业园金泉工业区甘泉路9号
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